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雷達(dá)物位計(jì)選型指南
華創(chuàng)測(cè)控 華創(chuàng)測(cè)控技術(shù)有限公司 2024-10-25 13:50
現(xiàn)代工業(yè)物位測(cè)量中，雷達(dá)物位計(jì)得到廣泛應(yīng)用，作為主流儀表，發(fā)展到今天，已經(jīng)出現(xiàn)20多種型號(hào)，以滿足不同種工況的需要。所以選擇一款正確的儀表至關(guān)重要。那么在儀表選型的時(shí)候，我們根據(jù)什么來(lái)判斷呢？我們的目的是得到在被測(cè)料面的一個(gè)有效反射波；同時(shí)又不存在其他干擾波或干擾波很小。能對(duì)這個(gè)目的產(chǎn)生影響的存在兩大方面。其一是：電磁波傳輸?shù)耐緩街?，環(huán)境所造成的影響。其二：被測(cè)料面的狀態(tài)對(duì)反射信號(hào)的影響。下面具體細(xì)分一下這兩大方面的影響。
1、選型時(shí)的注意事項(xiàng)：
（1）過(guò)程溫度：常規(guī)溫度-40-130℃，加散熱片130-300℃，更高溫度是氮?dú)獯祾呋蜓h(huán)水冷卻。
（2）測(cè)量介質(zhì)：介質(zhì)是否有腐蝕性，是否有粘附，是否有揮發(fā)結(jié)晶等。
（3）傳播介質(zhì)：是否有泡沫、蒸汽或粉塵等
（4）測(cè)量環(huán)境：是否有橫梁、人梯、拉筋等障礙物。
（5）連接方式：螺紋連接還是法蘭連接，多大螺紋，多大法蘭。
（6）有無(wú)攪拌：?jiǎn)螌訑嚢柽€是多層攪拌，攪拌扇葉的直徑是多少，攪拌扇葉的轉(zhuǎn)速是多少。
（7）安裝短管：安裝短管高度為從配對(duì)法蘭上表面到罐子底部的距離，安裝短管的高度，導(dǎo)波雷達(dá)我們建議的安裝短管高度是15cm以內(nèi)，非接觸式 棒式的是10cm，如超出這個(gè)范圍則需要裁短，否則會(huì)影響信號(hào)的發(fā)射和接收。
（8）量程確定：罐或倉(cāng)的量程和直徑，罐或倉(cāng)的內(nèi)徑是多少，在選型和使用雷達(dá)物位計(jì)的時(shí)候一定要注意，比如實(shí)際量程10米，而選型時(shí)選擇了5米。超范圍工作不僅得不到準(zhǔn)確的測(cè)量數(shù)據(jù)，還有可能對(duì)雷達(dá)液位計(jì)造成損傷。對(duì)測(cè)量的范圍要從光波觸碰到的罐底開始計(jì)算，如果儲(chǔ)蓄罐比較特殊，底部呈現(xiàn)錐狀或凹狀，這時(shí)候物位低于計(jì)算點(diǎn)，是無(wú)法進(jìn)行測(cè)量的。
（9）現(xiàn)場(chǎng)環(huán)境；常見的有變頻器、大功率馬達(dá)電機(jī)、震動(dòng)、電磁加熱等都對(duì)測(cè)量有干擾，讓雷達(dá)盡量遠(yuǎn)離這些干擾源。
（10）有障礙物：如果雷達(dá)發(fā)射的電磁波接觸到障礙物，那么就會(huì)得到一個(gè)干擾波形。如果有障礙物，則需要屏蔽信號(hào)，如果信號(hào)過(guò)大屏蔽不掉，則需要重新選擇安裝位置。如果無(wú)法選擇其他理想的安裝位置時(shí)，選擇波束角小的儀表或者采用導(dǎo)波管或旁通管的安裝形式是可以解決問(wèn)題的，要保證導(dǎo)波管內(nèi)壁的光滑度。
（11）容器形狀：確認(rèn)好所測(cè)量容器的形狀、材質(zhì)。對(duì)于圓型或橢圓型的容器，應(yīng)裝在離中心為1/2R(R為容器半徑)距離的位置，不可裝在圓型或橢圓型的容器頂?shù)闹行奶?，否則雷達(dá)波在容器壁的多重反射后，匯集于容器頂?shù)闹行奶?，形成很?qiáng)的干擾波，會(huì)影響準(zhǔn)確測(cè)量。
2、其他方面注意事項(xiàng)：
（1）被測(cè)物質(zhì)的介電常數(shù)或硬度介電常數(shù)影響電磁波反射的強(qiáng)弱。介電常數(shù)越大，反射回波則越強(qiáng)。還有在對(duì)低介電常數(shù)介質(zhì)進(jìn)行測(cè)量的時(shí)候，如果它的物位或液位較低，而且罐底可見時(shí)，罐底產(chǎn)生的回波信號(hào)強(qiáng)于液面的回波信號(hào)，無(wú)法測(cè)量實(shí)際的液位。
（2）被測(cè)料面的堆角
（3）被測(cè)料面的穩(wěn)定性
（4）被測(cè)物的顆粒度和疏松度
（5）被測(cè)物的濕潤(rùn)度
解決好上述問(wèn)題，那么我們就保證了，電磁波到達(dá)被測(cè)料面時(shí)，沒有大的衰減。通過(guò)被測(cè)料面的反射，得到一個(gè)回波信號(hào)?；夭ㄐ盘?hào)的強(qiáng)弱和被測(cè)料面以下狀態(tài)相關(guān)。關(guān)注以上問(wèn)題，就是為了能夠選擇一款儀表，在被測(cè)料面反射時(shí)，能得到一個(gè)可以識(shí)別的回波信號(hào)。隨著波的傳輸、反射和再傳輸這樣一個(gè)流程的結(jié)束，其間所遇到的問(wèn)題都考慮周全，那么儀表的選型也就完成了。
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